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仪器简介：
在珠宝行业、检测机构、海关商检、电子电器工业以及汽车材材工业等领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析或快速分析，同时对分析面积及灵敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS检测、ELV检测、贵金属成分分析等。德国斯派克分析仪器公司推出的SPECTRO MIDEXX 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
SPECTRO MIDEX x射线荧光光谱采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
应用范围：
l 电子行业电子元器件RoHS指令的快速检测
l 金属、汽车、航空领域超大及微小部件的成分检测
l 珠宝首饰及贵金属合金的分析
l 司法检定分析
l 其它微区分析和较大样品表面的元素分布分析。
产品特点：
技术参数：
两大分类
SPECTRO MIDEX SD（样品测试距离2 mm）
SPECTRO MIDEX LD（样品测试距离20 mm）
激发
- Mo靶X光管，功率：30W,电压：48kV
-测量点尺寸：Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
样品室
-可显示样品的摄像系统（可调焦）
-手动调节样品台，样品定位简便
-马达驱动精确移动的XYZ样品台，行程240178x160 mm（宽x深x高），样品重量3kg
计算机
-外置式计算机系统，Windows
操作系统，
-键盘，鼠标，显示器，打印机
-菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算，元素成分及分布显示
检测器
- Peltier冷却的Si漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
-以Mn Kα线，在测量计数率为10，000脉冲计数时，能量分辨率：FWHM< 160 eV
-微处理器控制的检测器和读出电路
-脉冲计数率可达250，000 cps
光谱仪数据
-电压：95-120V/200-240V AC，50/60 Hz,
-光谱仪能耗：200W
-仪器尺寸：670x 580740 mm
-底座尺寸宽x深:500550 mm
-重量55-70kg（根据不同配置）
分析
-用于合金元素分析的FP +基本参数程序
-塑料、复合材料用户名金属等的RoHS分析程序
环境条件
-周围环境温度：5-30°C（在20-25°C下，可达到标定仪器性能）
-在25°C下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘
*可选件
SPECTRO MIDEX SD
-氦气保护系统，提高Mg-Cl元素的检测灵敏度
-软件控制的准直器自动交换系统，分析尺寸：0.2/0.5/1/2.5/3.3mm
-马达驱动高精度X-Y-Z样品台，行程240178x160 mm (宽x深x高)，载重量3 kg
SPECTRO MIDEX LD
-软件控制的准直器自动交换器，分析尺寸：0.25/0.7/1.2/3.5/4.4mm
-马达驱动高精度X-Y-Z样品台，行程240178x160 mm (宽x深x高)，载重量3 kg